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2. Vektorielle Untersuchung der Magnetisierungsstruktur von ultradünnen Filmen und Nanostrukturen im Rasterelektronenmikroskop mit Polarisationsanalyse (SEMPA).
3. Röntgenholographische Mikroskopie (XHM) von magnetischen Schichtsystemen und Nanostrukturen an der ESRF (Grenoble) und am FLASH (Hamburg).
4. Grundlagen der Focused Ion Beam (FIB) Strukturierung.
