Tel.: | +49 (0)40 42838 6998 |
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Büro: | 108/11A |
Labor: | 008/9A (Tel: 7636) |
Aufbau und Inbetriebnahme einer XHM-Plattform für den Einsatz am DESY und FLASH.
Strukturierung von Proben und Holographiemasken mittels Focused Ion Beam (FIB).
Charakterisierung der Schichten und Strukturen mittels SEM, MOKE und Magneto-optischer Kerr-Mikroskopie.